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電鍍x熒光鍍層測厚儀

簡要描述:電鍍x熒光鍍層測厚儀
電鍍X熒光光譜鍍層測厚儀,是一款利用X射線熒光原理精準測量鍍層厚度的專業設備。它無需破壞樣品,通過激發鍍層元素產生特征X射線,分析其強度來快速確定厚度。該儀器操作簡便、測量精準、重復性好,可廣泛應用于電鍍、電子、五金等行業,為鍍層質量控制提供可靠數據支持。

  • 產品型號:
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-09-17
  • 訪  問  量:854

詳細介紹

電鍍x熒光鍍層測厚儀

電鍍X熒光光譜鍍層測厚儀:精準測量,品質保障之選

電鍍X熒光光譜鍍層測厚儀是一款基于*X射線熒光分析原理的高精度檢測設備,專為電鍍行業及各類鍍層厚度測量需求而設計,在保障產品質量、提升生產效率方面發揮著關鍵作用。

測量原理科學*

其核心原理是利用X射線管發射出高能X射線,照射到被測鍍層樣品表面。鍍層中的元素受到激發后,會釋放出具有特定能量的二次X射線,即特征X射線。通過高分辨率的探測器精準捕捉這些特征X射線的能量和強度信息,再結合內置的*算法和標準數據庫,就能快速、準確地計算出鍍層的厚度。這種非破壞性的測量方式,無需對樣品進行切割、打磨等處理,保留了樣品的完整性。

性能特點優勢突出

  • 高精度與高重復性:儀器采用精密的光學系統和*的信號處理技術,能夠有效降低測量誤差,確保每次測量的結果都具有高度的一致性和準確性,為產品質量控制提供可靠的數據支持。

  • 寬測量范圍:可適應不同厚度范圍的鍍層測量,無論是微米級的薄鍍層還是較厚的鍍層,都能實現精準測量,滿足電鍍行業多樣化的檢測需求。

  • 多元素分析能力:不僅能測量單一鍍層的厚度,還可對多層鍍層體系中的各層厚度進行分別測定,同時分析鍍層中的元素組成和含量,為電鍍工藝的優化提供全面的信息。

  • 操作簡便快捷:配備直觀的人機交互界面和智能化的操作軟件,用戶只需經過簡單培訓即可輕松上手。測量過程自動化程度高,大大縮短了檢測時間,提高了生產效率。

應用領域廣泛

廣泛應用于電鍍、電子、五金、汽車、航空航天等行業,用于檢測金屬鍍層(如鍍鋅、鍍鎳、鍍鉻等)和非金屬鍍層(如塑料電鍍、陶瓷鍍膜等)的厚度,幫助企業嚴格控制產品質量,確保產品符合相關標準和客戶要求。

電鍍X熒光光譜鍍層測厚儀以其科學*的測量原理、的性能特點和廣泛的應用領域,成為電鍍及相關行業的檢測設備。

以下是深圳市天創美科技有限公司銷售的X熒光光譜儀測試電鍍鍍層的儀器詳細介紹

鍍層檢測:

常見金屬鍍層有:

 鍍層

 

基體

Ni

Ni-P

Ti

Cu

Sn

Sn-Pb

Zn

Cr

Au

Zn-Ni

Ag

Pd

Rh

Al

Cu


Zn


Fe

SUS

 

單層厚度范圍:

金鍍層0-8um,

鉻鍍層0-15um,

其余一般為0-30um以內,

可最小測量達0.001um。

多層厚度范圍:

Au/Ni/Cu : Au分析厚度:0-8um      Ni分析厚度:0-30um

Sn/Ni/Cu: Sn分析厚度:0-30um      Ni分析厚度:0-30um

Cr/Ni/Fe: Cr分析厚度0-15um       Ni分析厚度:0-30um

鍍層層數為1-6層

鍍層精度相對差值一般<5%。

鍍層成分含量:Sn-Pb合金成分分析;Zn-Ni合金成分分析。

鍍層分析優勢:分析PCB金手指最小尺寸可達0.2mm

單層分析精度,以Ni舉例:(相對差值)

 Ni層厚度(um)

保證精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

元素成分分析:

鍍液分析,目前常見鍍液元素分析有:金、銀、錫、銅、鎳、鉻、鋅。

ROHS 和無鹵檢測,高性能SDD探測器可以檢測無鹵,實現鍍層與環保一機多用。

金屬成分分析,在檢測ROHS同時可檢測金屬中其他各元素成分含量。

檢測精度:

Cr,Cd,Hg,Cu, Zn, Fe, Ni, Pb, Mn, W, Au, Ag, Sn等重金屬

檢測限達1ppm。

對這些金屬測試分析穩定的讀取允許差值本儀器已達到下列標準:

A. 檢測含量大于5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于1%

B. 檢測含量在0.5~5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于2%

C. 檢測含量在0.1~0.5%的元素穩定的測試讀取相對差值小于5%

D. 檢測含量低于0.1%的元素測試讀取相對差值變化率小于10%

測量精度:

1)精度(單層):

                              測厚儀的檢測精度表

Ni層厚度(um)

精度

<1.0um

<5%

1.0-5.0um

<3%

5.0-10um

<3%

10-20um

<3%

>20.0um

<3%

    測試方法: 在相同的操作條件下,對同一標準樣板進行5次檢測,檢測到的平均數據與標樣板的實際數據作比較。檢測精度為檢測平均值與標準樣片實際值之差(平均誤差)

2)兩層及以上:

  兩層及以上的首層精度符合單層的測試結果,但是第二層以上比較復雜,要根據上面一層的厚度來決定。在一層厚度小于2um時,一層和二層的測試精度基本符合單層的精度,參照如下的測試報告 一層金標樣厚度0.101um,第二層鎳的標樣厚度為4.52um。

    一層厚度在2~5um時會大大降低第二層的和第三層的測試精度,第二層的誤差率會在5~10%,第三層的誤差率小于15%。

重復性:

保證重復性值:±5%

    重復性的檢測應在儀器校準后: 在相同的操作條件下,使用相同的檢測樣板做連續重復檢測,連續測量必須在同一檢測點位置使用一同樣片間隔60秒,測量一共進行10次,每次測量值與10次平均值進行對比。

重復性=平均誤差÷平均值×100%.

報告打?。?/span>

可以PDF,Excel格式輸出報告,歷史數據查詢方便

安全使用,維護與保養

由于儀器非常精密,未經允許情況請不要打開儀器外殼,不要對X射線源和探測器進行改變,由用戶自身原因造成儀器損壞本公司將不負責任。

儀器安裝一定要平穩,儀器后面離墻距離不得小于30厘米,必須使用標準的220V交流電,電壓不穩情況要配備穩壓電源,插座必須接地良好,由用戶電源不合乎要求造成損失由用戶負責。

請不要用濕的手觸摸電源部分,帶水的手也不要碰儀器外殼以免發生觸電。

進行測量時,因為高電壓流至X射線源,儀器運行時,不要嘗試打開或觸摸蓋子。由于高電壓源必須通過自動運行或者遵循用戶指南中止。

儀器環境要求:儀器使用環境需清潔,溫度適宜15℃~30℃,濕度80%,電源:AC: 220V ±5V。

以上細節均有可能造成無法預測后果,買方應予以基本遵守。

電鍍x熒光鍍層測厚儀

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